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<図書>

ICMTS 1990 : proceedings of the 1990 International Conference on Microelectronic Test Structures : March 5-7, 1990, San Diego, Calif. / sponsored by the IEEE Electron Devices Society

データ種別 図書
出版者 New York, NY : Institute of Electrical and Electronics Engineers
出版年 [1990]
大きさ x, 244 p. : ill. ; 28 cm

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配架場所 巻 次 請求記号 資料番号 状 態 資料区分 コメント ISBN 刷 年 利用注記
2F 規格外C
549||P942||(90) E93004829 専門図書(外国語) - 図書

1990

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別書名 原タイトル:AD:Proceedings of the 1990 International Conference on Microelectronic Test Structures
異なりアクセスタイトル:90CH27979
一般注記 Includes bibliographical references and index
"90CH2797-9."
著者標目 *IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (1989 : San Diego, Calif.)
IEEE Electron Devices Society
件 名 LCSH:Integrated circuits -- Testing -- Congresses
分 類 LCC:TK7874
DC20:621.381/5
書誌ID 1000117840
NCID BA10862944 WCLINK

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