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<図書>

ICMTS 1989 : Proceedings of the 1989 International Conference on Microelectronic Test Structures, Edinburgh - Scotland, 13-14th March 1989

データ種別 図書
出版者 New York, N.Y. : Institute of Electrical and Electronics Engineers, c1989
本文言語 英語
大きさ xii, 265 p. : ill. ; 30 cm

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配架場所 巻 次 請求記号 資料番号 状 態 資料区分 コメント ISBN 刷 年 利用注記
2F 規格外C
549||I215||(89) E90000390 専門図書(外国語) - 図書
0879427140 1989

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別書名 背表紙タイトル:1989 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures
異なりアクセスタイトル:89CH26930
一般注記 Sponsored by the IEEE Electron Devices Society
Includes bibliographies
IEEE Catalog Number 89CH2693-0
著者標目 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (1989 : Edinburgh, Scotland)
IEEE Electron Devices Society
件 名 LCSH:Integrated circuits -- Testing -- Congresses
書誌ID 1000103466
ISBN 0879427140
NCID BA07667554 WCLINK
巻冊次 ISBN:0879427140

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