工学部OPAC

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<図書>

Developments in integrated circuit testing / D.M. Miller, editor

(Perspectives in computing;v. 18)
データ種別 図書
出版者 London : Academic Press
出版年 1987
本文言語 英語
大きさ x, 440 p. : ill. ; 24 cm

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配架場所 巻 次 請求記号 資料番号 状 態 資料区分 コメント ISBN 刷 年 利用注記
2F 書庫A
547.515||D66M E93009128 専門図書(外国語) - 図書
0124967353 1987

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一般注記 Includes bibliography and index
著者標目 Miller, D. M.
件 名 PRECIS:Digital integrated circuits. Testing
LCSH:Digital integrated circuits -- Testing
分 類 LCC:TK7874
DC19:621.381/71
書誌ID 1000100088
ISBN 0124967353
NCID BA03599000 WCLINK
巻冊次 ISBN:0124967353 ; PRICE:£25.00 : CIP entry (Nov.)

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