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<図書>

VLSI testing / edited by T.W. Williams

(Advances in CAD for VLSI;v. 5)
データ種別 図書
出版者 Amsterdam ; New York : North-Holland
出版者 New York : Sole distributors for the U.S.A. and Canada, Elsevier Science
出版年 1986
本文言語 英語
大きさ ix, 275 p. : ill. ; 25 cm

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配架場所 巻 次 請求記号 資料番号 状 態 資料区分 コメント ISBN 刷 年 利用注記
2F 書庫A
549.7||A16O||(5) E93008599 専門図書(外国語) - 図書
0444878955 1988

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一般注記 Includes bibliographies
著者標目 Williams, T. W.
件 名 LCSH:Integrated circuits -- Very large scale integration -- Testing
分 類 LCC:TK7874
DC19:621.395
書誌ID 1000097541
ISBN 0444878955
NCID BA00276923 WCLINK
巻冊次 ISBN:0444878955

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