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<図書>

Testing and diagnosis of analog circuits and systems / edited by Ruey-Wen Liu

データ種別 図書
出版者 New York, N.Y. : Van Nostrand Reinhold
出版年 c1991
本文言語 英語
大きさ xiv, 284 p. : ill. ; 24 cm

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配架場所 巻 次 請求記号 資料番号 状 態 資料区分 コメント ISBN 刷 年 利用注記
2F 書庫A
549||Te84L E93008196 専門図書(外国語) - 図書
0442259328 1991

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一般注記 Includes bibliographical references and index
著者標目 Liu, Ruey-Wen, 1930-
件 名 LCSH:Analog electronic systems -- Testing
分 類 LCC:TK7870
DC20:621.381
書誌ID 1000105817
ISBN 0442259328
NCID BA12863631 WCLINK
巻冊次 ISBN:0442259328

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